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【產(chǎn)品概述】澤攸科技ZEM系列臺(tái)式掃描電子顯微鏡(SEM)憑借其超高的便捷性、創(chuàng)新的技術(shù)設(shè)計(jì)、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展,已成為科研與工業(yè)領(lǐng)域微觀分析的重要工具。該系列產(chǎn)品以高度集成化、操作便捷性和廣泛適用性為核心優(yōu)勢(shì),覆蓋了從基礎(chǔ)研究到深層次材料分析的多層次需求。ZEM系列采用多項(xiàng)自主創(chuàng)新技術(shù),例如真空分隔技術(shù),通過(guò)電子槍與樣品倉(cāng)的真空分離設(shè)計(jì),顯著縮短換樣時(shí)間,同時(shí)支持高真空與低真空模式。
產(chǎn)品詳情
澤攸科技臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)
產(chǎn)品介紹
ZEM20臺(tái)式掃描電鏡原位拉伸一體機(jī)是一款分辨率高、功能豐富的臺(tái)式掃描電鏡。采用更加寬泛的加速電壓,1KV步進(jìn),最高放大36萬(wàn)倍,分辨率可達(dá)nm。在樣品臺(tái)減速模式下,弱導(dǎo)電樣品無(wú)需噴金也能實(shí)時(shí)觀察。超大樣品倉(cāng)可集成多種原位拓展平臺(tái),滿足不同實(shí)驗(yàn)及檢測(cè)需求。
▲ 集成OxfordXploreCompact30能譜分析系統(tǒng)SuperATW窗口30mm2面積活區(qū)
▲ 分辨率優(yōu)于129eV(MnKα處)無(wú)需液氮冷卻
▲ 分析元素范圍:B5-Cf98
▲ 點(diǎn)、線、面掃描分析
▲ 全中文軟件操作界面(中英文切換功能)
▲ 真空分隔技術(shù):采用真空設(shè)計(jì),電子槍和樣品倉(cāng)真空分離,換樣時(shí)間小于1min。
▲ 超大樣品倉(cāng):提供了更大的樣品存儲(chǔ)空間,方便用戶操作。
▲ 超高分辨率:極限放大倍數(shù)達(dá)到36萬(wàn)倍,分辨率4nm@20kV。
▲ 選配減速模式:允許弱導(dǎo)電樣品在不噴金的情況下進(jìn)行觀察。
▲ 倉(cāng)內(nèi)攝像頭:樣品倉(cāng)內(nèi)置高清攝像頭,原位實(shí)驗(yàn)時(shí)可實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)樣品原位變化。
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